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                無錫創想分析儀器有限公司

                證券代碼:202213
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                無錫創想分析儀器有限公司

                國內市場部

                0510-83205379 0510-66882099 13301511032

                國際貿易部

                0510-68795132 15106177808

                傳 真:0510-83213469

                E-mail:[email protected]

                地 址:無錫市濱湖區胡埭工業園南區朝陽路8號

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                EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀 新品

                所屬分類:

                產品概述
                技術參數
                應用領域
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                EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析


                產品概述


                能量色散X熒光光譜分析儀體積小、穩定性好、分析快速準確、運行成本低、操作維護方便、是控制產品質量的理想選擇???/span>測定鉛Pb、汞Hg、鎘Cd、鉻Cr、溴Br等元素。硅半導體探測器,通過智能激發和檢測設計實現高靈敏度,用戶可自定義多曲線多光譜擬和分析方法,適用于不同的應用場合。


                Item

                內容描述

                儀器型號

                EDXRF

                分析原理

                能量色散X射線熒光分析法

                分析元素范圍

                Na(11)-U(92)任意元素

                檢出下限

                Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

                樣品形狀

                任意大小,任何不規則形狀

                樣品類型

                塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

                X射線管

                靶材

                鉬(Mo)靶

                管電壓

                5─50KV

                管電流

                1─1000uA

                樣品照射直徑

                2、5、8mm

                探測器

                美國進口Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統

                高壓發生器

                美國SPELLMAN高壓發生器

                前置放大器

                美國進口前置放大器,與美國進口探測器兼容性好

                主放大器

                美國進口主放大器,與美國進口探測器兼容性好

                AD轉換模塊

                美國進口AD轉換模塊,與美國進口探測器兼容性好

                ADC

                2048道

                濾光片

                6種濾光片自動選擇并自動轉換

                樣品觀察

                130萬彩色CCD攝像機

                分析軟件

                專利軟件產品 BX-V26版本,終身免費升級

                分析方法

                理論alpha系數法、基本參數法、經驗系數法

                操作系統軟件

                WINDOWS XP(正版)

                數據處理系統

                主機

                PC商務機型

                CPU

                P4 3.0

                內存

                512MB

                光驅

                8xDVD

                硬盤

                80G

                顯示器

                17寸液晶顯示器

                工作環境

                溫度10-35С,濕度30-70%RH

                重量

                60Kg(主機部分)

                外形尺寸

                550(W)×450(D)×450(H)mm

                外部供電電源要求

                AC220±10%、50/60Hz

                測定條件

                大氣環境

                測試樣品時間

                100-300秒可調

                環境溫度

                10℃-28℃

                環境濕度

                ≤70 %RH(25℃室溫)

                應用領域


                EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀應用于石化產品,塑料和聚合物,食品和化妝品,環境,礦石,醫藥,建筑材料,中心實驗室成品檢驗,金屬材料等。



                工作原理


                采用的是X射線熒光分析原理,受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線,并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后,儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。


                儀器結構


                x熒光光譜儀儀器結構


                融合經驗系數法、基本參數法(FP法)等分析方法,測試數據的準確性能得到全面保證。

                經驗系數法:儀器依據對標準樣品的測定,確定影響系數。對標準樣品要求高,需和待測樣品類型相近,校正模型簡單。

                基本參數法(FP法):儀器根據實際檢測物質,通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高,計算較復雜,適合缺少對應標樣的物質檢測。


                軟件功能


                1

                元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%

                2

                采用BG內標校正,提高非定性式樣測量精度

                3

                用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法

                4

                全自動定量分析報告 簡捷準確

                5

                自適應初試化校正

                6

                光譜的自動獲取和顯示。

                7

                具有自動檢測儀器工作狀態的功能。

                8

                自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口,進一步作其他元素分析,從鈣到鈾元素。


                進口硬件


                1

                美國進口Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統

                2

                美國SPELLMAN高壓發生器

                3

                美國進口前置放大器,與美國進口探測器兼容性好

                4

                美國進口主放大器,與美國進口探測器兼容性好

                5

                美國進口AD轉換模塊,與美國進口探測器兼容性好



                Item

                內容描述

                儀器型號

                EDXRF

                分析原理

                能量色散X射線熒光分析法

                分析元素范圍

                Na(11)-U(92)任意元素

                檢出下限

                Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

                樣品形狀

                任意大小,任何不規則形狀

                樣品類型

                塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

                X射線管

                靶材

                鉬(Mo)靶

                管電壓

                5─50KV

                管電流

                1─1000uA

                樣品照射直徑

                2、5、8mm

                探測器

                美國進口Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統

                高壓發生器

                美國SPELLMAN高壓發生器

                前置放大器

                美國進口前置放大器,與美國進口探測器兼容性好

                主放大器

                美國進口主放大器,與美國進口探測器兼容性好

                AD轉換模塊

                美國進口AD轉換模塊,與美國進口探測器兼容性好

                ADC

                2048道

                濾光片

                6種濾光片自動選擇并自動轉換

                樣品觀察

                130萬彩色CCD攝像機

                分析軟件

                專利軟件產品 BX-V26版本,終身免費升級

                分析方法

                理論alpha系數法、基本參數法、經驗系數法

                操作系統軟件

                WINDOWS XP(正版)

                數據處理系統

                主機

                PC商務機型

                CPU

                P4 3.0

                內存

                512MB

                光驅

                8xDVD

                硬盤

                80G

                顯示器

                17寸液晶顯示器

                工作環境

                溫度10-35С,濕度30-70%RH

                重量

                60Kg(主機部分)

                外形尺寸

                550(W)×450(D)×450(H)mm

                外部供電電源要求

                AC220±10%、50/60Hz

                測定條件

                大氣環境

                測試樣品時間

                100-300秒可調

                環境溫度

                10℃-28℃

                環境濕度

                ≤70 %RH(25℃室溫)

                應用領域


                EDXRF能量色散X射線熒光光譜分析儀應用于石化產品,塑料和聚合物,食品和化妝品,環境,礦石,醫藥,建筑材料,中心實驗室成品檢驗,金屬材料等。


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